Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM для спектроскопии

Настольная установка для интеграции сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионной спектроскопии серии ZEM сочетает в себе функции определения морфологии образца и элементного анализа. Она имеет компактные размеры, проста в эксплуатации и не требует специальных условий для установки. Для работы достаточно поставить его на стол и подключить к питанию.

Настольная машина для интеграции SEM-EDS серии ZEM оснащена разработанной самостоятельно электронной пушкой с вольфрамовой нитью и регулируемым ускоряющим напряжением в диапазоне 1-15 кВ, в сочетании с детектором вторичных электронов, детектором обратных рассеянных электронов и встроенным энергетическим спектрометром Oxford, удовлетворяющим потребности как в наблюдении морфологии, так и в элементном анализе.


Параметры энергетического спектрометра:
▲ Интегрированная система анализа Oxford Xplore Compact 30 EDS с окном Super ATW и активной областью 30 мм²
▲ Разрешение лучше 129 эВ (при MnKα) без охлаждения жидким азотом
▲ Диапазон элементного анализа: B5-Cf98
▲ Точечный, линейный и площадной сканирующий анализ
▲ Китайский интерфейс программного обеспечения с возможностью переключения между китайским и английским языками


Особенности установки SEM:
▲ Технология вакуумной сепарации: Используется уникальная вакуумная конструкция, в которой электронная пушка и камера для образцов имеют раздельные вакуумы, что позволяет менять образцы менее чем за 1 минуту.
▲ Очень большая камера для образцов: Обеспечивает большее пространство для хранения образцов и для обеспечения удобной работы пользователя.
▲ Стандартная комплектация Режим замедления: Позволяет наблюдать слабопроводящие образцы без напыления золотом.
▲ Камера: Камера для образцов оснащена камерой высокой четкости для наблюдения за изменениями образца в реальном времени во время экспериментов in-situ.